Holografia a jej technické aplikácie
Využitie holografickej topografie v metrológii
Holografické metódy umožňujú sledovať povrchy objektov s mikroštruktúrou, pri ktorej sa na holograme porovnávajú posunutia alebo deformácie povrchov s identickou mikroštruktúrou, pričom získané interferenčné prúžky charakterizujú makroskopiské zmeny povrchov, teda sú holografickými kópiami jedného a toho istého deformovaného povrchu telesa (Vest, 1979).
Okrem polohy povrchu predmetu možno pomocou holografickej interferometrie zisťovať aj jeho tvar. Rekonštrukcia svetelných vĺn pri jeho usporiadaní vedie k vytvoreniu takého interferenčného obrazca, ktorý predstavuje topografickú mapu povrchu predmetu. Zmena polohy elementárnych plôch povrchu predmetu býva príčinou vzniku interferogramu. Optická schéma na zisťovanie povrchu reliéfu predmetu je na Obr. 40.
Obr. 40 Odvodenie reliéfnej funkcie h (x, y)
n – index lomu imerzného prostredia, ws – predmetová vlna, wr – referenčná vlna, a – uhol dopadu osvetľovacej vlny meraný od smeru osi z, HD – holografická doska, y, z – osi súradnicového systému
Vytvoril Peter Oravec, stránka je optimalizovaná pre minimálne rozlíšenie 800x600 a pre zobrazenie na všetkých prehliadačoch. Je validná podľa XHTML 1.0 Strict , CSS 2.1 a optimalizovaná technológiou SEO.
Počet návštevníkov od 1. 1. 2004: